德正X-RAY检测设备生产产家—深圳市德正智能科技有限公司! DEZ-X620型高解析X-ray检测系统产品介绍 ■产品简介 高解析DEZ-X620是德正智能较新推出的一款高性能、高清晰度和高分辨率X-RAY检测设备,为离线式**X-RAY的旗舰机型。 全系采用日本滨松(HAMAMATSU)130KV 5um闭式X射线管,免维护、**命(10000H),并且采用了300W高分辨率数字平板探测器,可倾斜60度观测,载物台可360度旋转,采用彩色图像导航,精准检测被测物体。 全新升级版的DEZ-X620可自动变成检测以及自动判断,并可升级3D模块(工业CT)。 ■产品参数: 设备型号 DEZ-X620 X-RAY发射管光管类型 封闭式X光管 较大管电压 130KV (可选100KV,110KV) 较大管电流 200 uA 焦斑大小 3um 放大倍率 几何倍率:200X 系统倍率 分辨率 1500*1500 倾斜角度 载物台360°旋转,探测器60°倾斜,轻易检测BGA虚焊 机柜规格 载物台大小 500mm*500mm 外形尺寸 长:1591mm,宽:1440mm,高1726mm 设备净重 1400KG 输入电压 AC110-220V (±10%)(国际通用供电方式) X射线泄漏量 ≤1uSv/h 操作系统 Windows7 整机功率 2500W 行程(X、Y、Z) 360*300*400 计算机 HP工作站 显示器 三星/飞利浦 24寸高清LED ■主要功能: 功能优势 载物台360°旋转,6轴联动 大功率便于检测带屏蔽层的样品 系统放大1000倍 检测精度接近于1um 软件设置电压电流 使用寿命长,免维护 强大的CNC检测功能,全自动检测BGA焊接 可以满足大型样品的检测 强大的软件分析功能,可以升级为CT 不需要倾斜样品,以*特的视角观察样品 放大倍数更大,图像更清晰,看BGA虚焊更* 是一款性价比**高的X光机 ■标准配置: 名称 数量 单位 备注 130KV-5um封闭式X光管 1 件 100KV,110KV (可选) 载物台 1 件 尺寸:500mm*500mm 平板探测器 1 件 全数字高清,采用**大尺寸 图像处理器CPU 1 件 使用功能齐全 液晶显示器 1 件 24" ■主要优势 Key Features ■应用 Applications ●可以检测低于2.5微米的缺陷; ⑴BGA检测 ●方便维护,使用寿命长; ⑵半导体 ●操作简单,减少操作人员的培训工作; ⑶电子连机器模组的检测 ●适合大批量检测; ⑷封装元件 ●半自动的合格/不合格产品检测; ⑸铝压模铸件 ●检测的重复精度高; ⑹模压塑料部件 ●可容纳大量各种尺寸的样品; ⑺陶瓷制品 ●允许*特视角检测样品; ⑻航空组件 ●130KV 5微米 X-RAY闭管; ⑼电器和机械部件 ●可以编程的检查程序; ⑽医药制品 ●500×500mm载物台,载物台可360度旋转; ⑾自动化组件 ●正负60度旋转倾斜; ⑿农业(种子检测) ■载物台控制 Stage Control ①载物台速度:“慢速”、“常速”、“快速”可以通过空格键控制; ②键盘控制X、Y、Z轴运动和倾斜的角度; ③用户可以通过编程来控制载物台速度和角度; ④**大导航窗口,*定位和识别不良品; ⑤鼠标点击即可控制载物台; ⑥可视屏中有浮动的控制键; ⑦在可视屏中可以通过鼠标控制载物台; ⑧载物台电动360度旋转; ■数控编程 CNC Programmability ①简单鼠标点击操作即可创建检测程序; ②载物台可以进行X、Y、Z方向定位;X光管和X光探测器方向定位; ③计算机设置电压和电流; ④影像设备;亮度、对比度、自动增益和曝光度; ⑤用户可以设置程式切换的停顿时间; ⑤防碰撞系统可以满足较大限度的倾斜和观察物体; ⑦自动分析BGA直径、空洞比例、面积和圆度; ■全自动BGA检测程序 Automatic BGA Inspection Procedures ①简单的鼠标点击编程,在*操作员干预的情况下,自动检测组件上每一个BGA; ②自动BGA检测程序可精确检查BGA的桥接,虚焊,冷焊和空洞比例; ③自动BGA检测程序检测结果重复性高,以便于制程管控; ④检测结果会显示在屏幕上,并且可以输出到Excel表格,方便复查和存档; ■设备优势 ●更高的射线管电压(封闭式Tube, 130kV); ◆射线有更强的穿透力; ◆可穿透更厚的样品或密度更大的检测样品; ◆可使用时间10000H以上; ◆更高的分辨率(1500*1500); ◆焦班大小 <5um; ◆更高的影像放大倍率X620,G1000X; ◆载物台大小:500*500mm; ●操作的优点 ◆可控制斜角观测角度,60度; ◆在斜角角度观测时不会损失放大倍率; ◆始终保持检测样品水平放置和移动(检测样品取放简易),倾斜控制简便; ◆鼠标控制,检测样品上的任一点可*检视; ◆检测样品上的任一点可360度*检视;